STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM (SPC) ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH (MSA) WEDŁUG WYMAGAŃ BRANŻY LOTNICZEJ

Kategoria

BRANŻOWE

Typ szkolenia

otwarte

Profil uczestników

· specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, · osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy, · osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie, · osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem, · osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych, · pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.

Wymagania wstępne

Szkolenie ma charakter warsztatowy. Wszystkie podejmowane zagadnienia ilustrowane są wieloma przykładami, w których uwaga skierowana jest zarówno na stronę rachunkową (Minitab), jak i na stronę znaczeniową (interpretacja otrzymanych wyników w aspekcie oceny jakości procesów produkcyjnego/ pomiarowego oraz możliwości ich doskonalenia.

Program

Program szkolenia:

Część 1 - Statystyczne sterowanie procesem (SPC).

• Ocena zdolności procesu (współczynniki Pp, Ppk, Cp, Cpk): dwustronna granica specyfikacji/jednostronna granica specyfikacji, rozkład normalny/rozkład inny od rozkładu normalnego (transformacje Box-Cox/Johnson, procedura dopasowanie rozkładu). Zdolność Between/Within. Funkcja straty.
• Zdolność procesu w przypadku oceny atrybutowej.
• Karty kontrolne Shewharta w przypadku parametrów mierzalnych (xbar-R,I-MR, karta I-MR-R/S – dobór, konstrukcja, interpretacja). Karty kontrolne w przypadku oceny alternatywnej (p, np., c, u – dobór, konstrukcja, interpretacja). Inne karty kontrolne (w przypadku rozkładów innych od normalnego, w przypadku tzw. zdarzeń rzadkich).
• Równoczesne monitorowanie procesu ze względu na wiele parametrów. Krótkie serie (karta prekontroli Green-Yellow-Red, karta DNOM odchyleń od wartości nominalnej). Organizacja SPC (korzyści, pokonywanie przeciwności, zalecenia odnośnie treningu).
• Relacje SPC/PFMEA.

Część 2 - Analiza systemów pomiarowych (MSA).

• Pojęcia podstawowe (proces/system pomiarowy, poprawność – błąd systematyczny, stabilność, liniowość; precyzja - powtarzalność, odtwarzalność, interakcja ).
• Podział charakterystyk Critical/Major/Minor.
• Ocena procesu pomiarowego (EMP – Evaluating the Measurement Process): jeden operator/urządzenie pomiarowe/jedna część, jeden operator/urządzenie pomiarowe/kilka części, kilku operatorów/urządzenia pomiarowe/kilka części.
• Metody i kryteria kwalifikacji (Short/Basic EMP Study)–analiza wariancji (ANOVA) (preferowana !!!), metoda średniej
  i rozstępu, ocena spójności (Consistency Study), zasady wyznaczanie i interpretacja pasm ochronnych (Guard Bands), współczynnik korelacji wewnątrzklasowej (Interclass Correlation Coefficient ICC).
• Współczynniki: precyzja/do tolerancji P/T, liczba rozróżnialnych kategorii ndc – wyznaczanie, interpretacja.
• Analiza graficzna – karta kontrolna wartości średniej i rozstępu, wykres interakcji, wykorzystanie karty ANOM, karty przebiegu procesu pomiarowego, wykresy typu Multi-Vari Charts. Ocena błędu systematycznego (bias) oraz liniowości.
• Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg, Cgk (Cg, Cgk Study).
• Kwalifikacja w przypadku jednostronnej granicy specyfikacji. Ocena wpływu temperatury.
• MSA w przypadku oceny atrybutowej – metoda długa (R&R dla atrybutów), współczynnik kappa Cohena – technika, interpretacja.
• Dane porządkowe (np. skale wzorców – wielkość ziarna, wtrącenia niemetaliczne) – wyznaczanie i interpretacja współczynnika ICC (Interclass Correlation Coefficient).
• Wykorzystanie metod planowania eksperymentu (DOE) w MSA. Powiązania MSA/FMEA.

Forma

stacjonarna / online

Czas trwania

3 DNI PO 7 GODZ.

Cena

3628.50 zł brutto

Zgłoszenie

Zapisz się - kliknij!

W cenę wliczono

- udział w szkoleniu, - materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis, - bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych, - certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, - możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, - obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek.

Zdobyta wiedza

Uczestnik nauczy się: · Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA w branży lotniczej. · Dokonywać statystycznej analizy danych pochodzących z procesu. · Określać warunki jakie muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA. · Posługiwać się narzędziami SPC i MSA w sposób praktyczny – dobierając narzędzia, zasady rachunkowe i interpretacyjne. Uczestnik dowie się: · Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta. · Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSA w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – SAE RM 13006:2021 „Process Control Methods”, SAE RM 13003:2021 „Measurement Systems Analysis” · Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA. · Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych.

Organizator

TQMsoft - kontakt z organizatorem - kliknij!

1. drukuj