ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH - METODA R&R DLA POMIARÓW NIEPOWTARZALNYCH

Kategoria

BRANŻOWE

Typ szkolenia

otwarte

Profil uczestników

Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym. Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych. Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC. Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949. Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt). Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów. Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców. Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości. Inżynierowie procesu. Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów. Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Program

1.  Zdolność systemu pomiarowego. 

2.  Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

3.  Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

4.  Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

5.  Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

6.  Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

7.  Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

8.  Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

9.  Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

10.  Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

11.  Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

12.  Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

13.  Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

14.  Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

15.  Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

16.  Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

17.  Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.  

Ćwiczenia: 

• Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka). 
• Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności. 
• Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania. 
• Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel). 
• Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA). 

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem. 

Forma

stacjonarna / online

Czas trwania

3 DNI PO 8 GODZ.

Termin / Lokalizacja

1. 09.12.2024 / Kraków, ul. Bociana 22a
2. 17.03.2025 / Kraków, ul. Bociana 22a

Cena

3813.00 zł brutto

Zgłoszenie

Zapisz się - kliknij!

W cenę wliczono

- udział w szkoleniu, - materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis, - bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych, - certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, - możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, - obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek.

Zdobyta wiedza

Korzyści dla przedsiębiorstwa: Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym. Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek. W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.

Organizator

TQMsoft - kontakt z organizatorem - kliknij!

1. drukuj